실험환경 | 장비명 | 제작사(모델명) | 장비사진 |
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범용 계측기 | Spectrum Analyzer | 에질런트 (E4448A) | |
Signal Source Analyzer | 에질런트 (E5052B) | ||
Analog Signal Generator | 에질런트 (E8257D) | ||
Vector signal Generator | 에질런트 (E8267D) | ||
Logic Analyzer | 에질런트 (16806A) | ||
Infiniium DCA-X Oscillloscope | 에질런트 (86100D) | ||
Digital Serial Analyzer | 누비콤 (DSA72004C) | ||
Arbitrary Waveform Generator | 누비콤 (AWG7122C) | ||
DATA Timing Generator | 누비콤 (DTG5334) | ||
네트워크 아날라이저 | 에질런트 (N5227A) | ||
소자 특성 | 온도가변형홀효과측정장비 | 에코피아 (HMS-5000) | |
SPA (반도체계수측정기) | KEITHLEY (4200-SCS/F) | ||
Probe Station | MS TECH (MST-5000_VACUUM_CHA) | ||
표면저항측정기 | 에이아이티 (Full auto 4-point probe system) | ||
Parameter analyzer (reliability) | |||
Power device analyzer | Agilent (B1505A) | ||
Power device probe station | MS Tech | ||
솔라시뮬레이터 | Yamashita Denso | ||
양자효율측정기 | PV measurements | ||
유선 통신 | 광워너스팩트럼분석기 (Optical Spectrum Analyzer) | 에질런트 (86142B) | |
편광조절기 (Polarization Controller) | 에질런트 (N7784B) | ||
파장조절이가능한광원발생기 (Tunable Laser Source) | 에질런트 (81600B) | ||
Laser Diode Controller | TERA TECH (LDC-3908) | ||
포토다이오드 | 에이이노텍 (DSC10ER-390FC/A PC-V-2) | ||
SPEERCONTINUUM SOURCE | 에이이노텍 (SUPERK COMPACT) | ||
High-Performance Serial BERT | 에질런트 (N4903B) | ||
무선통신 | NI 4x4 MIMO Systems | NI | |
메디칼 시스템 | Wave Imaging System | SSR-Mo6 외 | |
Flat Panel detector based cone beam CTsystem | Varian/Pax4030B 외 |